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5.1. Cyclone® V器件中每个封装的I/O资源
5.2. Cyclone® V器件的I/O纵向移植
5.3. Cyclone® V器件中的I/O标准支持
5.4. Cyclone® V器件的I/O设计指南
5.5. Cyclone® V器件中I/O Bank的位置
5.6. Cyclone® V器件中的I/O Bank组
5.7. Cyclone® V器件中的I/O单元结构
5.8. Cyclone® V器件中的可编程IOE特性
5.9. Cyclone® V器件中的片上I/O匹配
5.10. Cyclone® V器件的外部I/O匹配
5.11. 专用高速电路
5.12. Cyclone® V器件中的差分发送器
5.13. Cyclone® V器件中的差分接收器
5.14. 源同步时序预算
5.15. Cyclone® V器件中的I/O特性修订历史
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9.5. IEEE Std. 1149.1边界扫描测试指南
使用IEEE Std. 1149.1器件运行BST时,请参考以下指导:
- SHIFT_IR 状态的第一个时钟周期内,如果“10...”码型未通过TDO管脚移出指令寄存器,则TAP控制器无法达到正确状态。可尝试下列方法解决这个问题:
- 验证TAP控制器已经正确达到 SHIFT_IR 状态。为促进TAP控制器达到 SHIFT_IR 状态,请返回RESET状态并将 01100 代码发送至TMS管脚。
- 查看与VCC、GND、JTAG以及器件上专用配置管脚的连接。
- 在首个EXTEST测试周期之前,先运行一个 SAMPLE/PRELOAD 测试周期,以确保进入 EXTEST模式时,已知数据在器件管脚出现。如果OEJ更新寄存器包含0,则驱动OUTJ更新寄存器中的数据。必须确保该状态明确且正确,以避免与系统中的其他器件争用。
- 在in-circuit重配置期间请勿运行EXTEST测试,因为in-circuit重配置期间不支持EXTEST。要运行测试,请等待配置完成或发布 CONFIG_IO 指令中断配置。
- 配置完成后,不可测试差分管脚对中的任何管脚。要在配置后运行BST,就需要编辑和重新定义与这些差分管脚对相对应的BSC组以作为内部单元。
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