Intel® Arria® 10内核架构和通用I/O手册

ID 683461
日期 5/08/2017
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8.1. SEU缓解概述

单粒子翻转(SEU)指器件或系统中存储元件的状态发生了变化,通常发生在SRAM中,这是由于宇宙辐射影响所造成的。这个状态是一个软错误,将存储元件的状态改回其原始值,就可以修复这个错误,而且不会对器件本身造成永久性损坏。由于非预期的存储状态,该器件可能会错误地进行操作,直到修复了这个翻转。

软错误率(SER)表达为及时故障(FIT)单元,定义为每运行一百万小时出现一次软错误。由于发生的几率很低,所以通常不需要考虑SEU缓解。然而,对于高度复杂的系统,例如包含多个高密度器件,错误率可能成为一个主要的系统设计因素。如果您的系统包括多个FPGA,并且要求非常高的可靠性和可用性,那么您应该考虑到软错误带来影响,利用现有的技术来检测这些类型的错误,并且从这些错误中恢复。