仅对英特尔可见 — GUID: sam1403483301958
Ixiasoft
8.2.2.1. 错误检测循环冗余检查
用户模式中, 已配置的配置RAM (CRAM)位的内容会受到软错误影响。 这些由电离粒子引起的软错误在IntelFPGA器件中并不常见。 然而,高可靠性应用要求无误的器件操作,于是需要在设计中考虑到这些错误。
固定片上EDCRC电路允许您执行以下操作且不影响器件的布线或性能:
- 配置期间循环冗余校验(CRC)错误的自动检测。
- 用户模式中可选的软错误(SEU和多位翻转)检测和识别。
- 快速检测软件错误。错误检测速度已提高。
- check-bits的两种类型:
- 基于帧的校验位—存储在CRAM中并用于验证帧的完整性。
- 基于列的校验位—存储在寄存器中并用于保护所有帧的完整性。
用户模式下的错误检测期间,一些EDCRC引擎因 Arria® 10器件并列运行。错误检测CRC引擎的数目取决于帧的长度—一帧中的比特总数。
每个基于列的错误检测CRC引擎从每帧中读取128个位,并在四个周期内处理。要检测到错误,错误检测CRC引擎需要读回所有的帧。
图 164. 用户模式中错误检测的结构图下图显示了用户模式中的寄存器和数据流程。
名称 | 说明 |
---|---|
错误信息寄存器(EMR) | 包含单比特和双相邻错误的详细信息。每当错误检测电路检测到一个错误时就会更新此寄存器。 |
用户更新寄存器 | 该寄存器的内容被验证后的一个时钟周期,该寄存器被自动地更新为 EMR的内容。 用户更新寄存器包含一个时钟使能, 它必须在其内容被写入到用户移位寄存器之前被置位。这个要求确保用户更新寄存器不被重写(当其内容在被 用户移位寄存器读取时)。 |
用户移位寄存器 | 此寄存器允许用户逻辑通过内核接口访问用户更新的寄存器内容。 可以使用Altera Error Message Register Unloader IP内核通过用户移位寄存器移出EMR信息。请参阅相关信息了解详情。 |
JTAG更新寄存器 | 该寄存器的内容被验证后的一个时钟周期,该寄存器被自动地更新为 EMR的内容。 JTAG更新寄存器包含一个时钟使能,它必须在其内容被写入到JTAG移位寄存器之前被置位。这个要求确保JTAG更新寄存器不被重写 (当其内容在被JTAG移位寄存器读取时)。 |
JTAG移位寄存器 | 该寄存器使您能够使用SHIFT_EDERROR_REG JTAG指令通过JTAG接口访问JTAG更新寄存器的内容。 |
硬核处理器系统(HPS)更新寄存器 | 此寄存器内容被验证后就自动更新为EMR一个时钟周期的内容。(HPS)更新寄存器包含一个已使能的时钟,且必须在其内容被写入HPS移位寄存器前将它置位。此要求确保了HPS更新寄存器不会在HPS移位寄存器读取其内容时被重写。 |
HPS移位寄存器 | 该寄存器使您能够通过HPS接口访问HPS更新寄存器的内容。 |