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1. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的逻辑阵列模块与自适应逻辑模块
2. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的嵌入式存储器模块
3. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的精度可调DSP模块
4. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的时钟网络和PLL
5. Intel® Cyclone® 10 GX 器件的I/O和高速I/O
6. Intel® Cyclone® 10 GX 器件的外部存储器接口
7. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的配置,设计安全和远程系统更新
8. Intel® Cyclone® 10 GX器件的SEU缓解
9. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的JTAG边界扫描测试
10. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的电源管理
5.1. Intel® Cyclone® 10 GX 器件中的I/O和差分I/O缓冲
5.2. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的I/O标准和电压电平
5.3. Intel® Cyclone® 10 GX 器件的Intel FPGA I/O IP内核
5.4. Intel® Cyclone® 10 GX 器件的I/O资源
5.5. Intel® Cyclone® 10 GX 器件的体系结构和I/O的一般功能
5.6. Intel® Cyclone® 10 GX 器件的高速源同步SERDES和DPA
5.7. 在 Intel® Cyclone® 10 GX 器件中使用I/O和高速I/O
5.8. Intel® Cyclone® 10 GX器件的I/O和高速I/O的修订历史
6.1. Intel® Cyclone® 10 GX 外部存储器接口关键功能特性的解决方案
6.2. Intel® Cyclone® 10 GX器件支持的存储器标准
6.3. Intel® Cyclone® 10 GX 器件中的外部存储器接口宽度
6.4. Intel® Cyclone® 10 GX 器件中的外部存储器接口I/O管脚
6.5. Intel® Cyclone® 10 GX 器件封装中支持的存储器接口
6.6. Intel® Cyclone® 10 GX 器件中的外部存储器接口IP支持
6.7. Intel® Cyclone® 10 GX 器件的外部存储器接口体系结构
6.8. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的外部存储器接口修订历史
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8.1. 单粒子翻转缓解
单粒子翻转(SEU)是宇宙辐射效应导致FPGA内部存储单元发生罕见和意外变化的现象。 此状态变化为软错误,不对FPGA造成永久性损坏。由于无法预见的存储状态,FPGA可能会错误运行直到后台擦除修复翻转。
Quartus® Prime Pro Edition软件提供多种功能检测和纠正SEU效应,或软错误以及您设计中的SEU效应表征。此外,一些Intel FPGA还包含辅助检测和纠正错误的专用电路。
图 152. 用于检测和纠正SEU的工具、IP和电路
Intel FPGA的用户逻辑和Configuration Random Access Memory (CRAM)中具有存储器。 Quartus® Prime Pro Edition Programmer通过.sof文件加载CRAM。然后,CRAM配置所有FPGA逻辑和布线。如果SEU触动到CRAM位,但器件并不使用CRAM位,则不会造成有害效应。然而如果SEU影响到关键逻辑或内部信号路径,则后果会很严重。
通常,由于SEU的低发生率,设计中并不需要SEU缓解。但对于高复合系统,如,具有多个高密度元件的系统,任何错误率都可能成为影响系统设计的重要因素。如果您的系统包括多个FPGA,并且要求非常高的可靠性和可用性,则应该考虑软错误的潜在影响。使用本章中的技术检测并从各种错误类型中恢复。