Intel® Cyclone® 10 GX内核架构和通用I/O手册

ID 683775
日期 6/14/2018
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8.2.4.2. Projected SEU FIT by Component Usage报告

Projected SEU FIT by Component Usage报告显示构成总FIT率和SEU FIT计算结果的各组成部分(或单元类型)。

Intel FPGA对软错误的敏感度因工艺技术,元件类型和实现元件时的设计选择(例如面积/延迟和SEU延迟率之间的权衡)而异。报告显示所有位(原始FIT),已使用位(仅设计实际使用的资源)和ECC缓解位。

图 162. Projected SEU FIT by Component Usage报告