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1. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的逻辑阵列模块与自适应逻辑模块
2. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的嵌入式存储器模块
3. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的精度可调DSP模块
4. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的时钟网络和PLL
5. Intel® Cyclone® 10 GX 器件的I/O和高速I/O
6. Intel® Cyclone® 10 GX 器件的外部存储器接口
7. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的配置,设计安全和远程系统更新
8. Intel® Cyclone® 10 GX器件的SEU缓解
9. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的JTAG边界扫描测试
10. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的电源管理
5.1. Intel® Cyclone® 10 GX 器件中的I/O和差分I/O缓冲
5.2. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的I/O标准和电压电平
5.3. Intel® Cyclone® 10 GX 器件的Intel FPGA I/O IP内核
5.4. Intel® Cyclone® 10 GX 器件的I/O资源
5.5. Intel® Cyclone® 10 GX 器件的体系结构和I/O的一般功能
5.6. Intel® Cyclone® 10 GX 器件的高速源同步SERDES和DPA
5.7. 在 Intel® Cyclone® 10 GX 器件中使用I/O和高速I/O
5.8. Intel® Cyclone® 10 GX器件的I/O和高速I/O的修订历史
6.1. Intel® Cyclone® 10 GX 外部存储器接口关键功能特性的解决方案
6.2. Intel® Cyclone® 10 GX器件支持的存储器标准
6.3. Intel® Cyclone® 10 GX 器件中的外部存储器接口宽度
6.4. Intel® Cyclone® 10 GX 器件中的外部存储器接口I/O管脚
6.5. Intel® Cyclone® 10 GX 器件封装中支持的存储器接口
6.6. Intel® Cyclone® 10 GX 器件中的外部存储器接口IP支持
6.7. Intel® Cyclone® 10 GX 器件的外部存储器接口体系结构
6.8. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的外部存储器接口修订历史
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8.2.1.1.3. CRC_ERROR管脚行为
Intel® Cyclone® 10 GX快速EDCRC功能运行全部并列的基于列的校验位引擎。当检测到SEU时,基于列的校验位置位CRC_ERROR,然后把已检测到的帧位置传递到基于帧的校验位从而进一步定位受影响的位。此过程导致CRC_ERROR管脚两次置位。基于列的校验位置位第一个CRC_ERROR脉冲,随后由基于帧的校验位置位第二个脉冲。
Intel® Cyclone® 10 GX中,一旦检测到SEU,则将CRC_ERROR置高且保持为高,直到准备就绪以读取EMR。可在CRC_ERROR管脚变为低电平时尽快卸载EMR数据。一旦EMR数据被卸载,就可决定错误类型及受影响的位置。通过这些信息可决定您的系统如何应答具体的SEU事件。
图 157. 快速EDCRC处理流程图
图 158. 基于列的校验位的时序图如果为可纠正错误,大多数情况下,单个SEU翻转中存在第二脉冲。但也有些情况下,CRC_ERROR管脚置位两个脉冲,而错误无法纠正,请参阅可纠正和不可纠正错误全面了解可纠正和不可纠正错误的情况。仅第二脉冲的下降沿有完整EMR。
在极少数不可纠正和无法定位错误的情况下,CRC_ERROR信号仅被置位一次。由于无法定位不可纠正错误的位置,将不会有基于帧的校验位的第二脉冲置位。对于一般环境条件下的器件,出现不可纠正的多位SEU可能性极低,一万年难有一个。
图 159. 基于列或基于帧的校验位时序图
一个SEU事件中由单个脉冲观测的基于列/基于帧的校验位的CRC_ERROR管脚行为实例。