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1. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的逻辑阵列模块与自适应逻辑模块
2. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的嵌入式存储器模块
3. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的精度可调DSP模块
4. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的时钟网络和PLL
5. Intel® Cyclone® 10 GX 器件的I/O和高速I/O
6. Intel® Cyclone® 10 GX 器件的外部存储器接口
7. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的配置,设计安全和远程系统更新
8. Intel® Cyclone® 10 GX器件的SEU缓解
9. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的JTAG边界扫描测试
10. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的电源管理
5.1. Intel® Cyclone® 10 GX 器件中的I/O和差分I/O缓冲
5.2. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的I/O标准和电压电平
5.3. Intel® Cyclone® 10 GX 器件的Intel FPGA I/O IP内核
5.4. Intel® Cyclone® 10 GX 器件的I/O资源
5.5. Intel® Cyclone® 10 GX 器件的体系结构和I/O的一般功能
5.6. Intel® Cyclone® 10 GX 器件的高速源同步SERDES和DPA
5.7. 在 Intel® Cyclone® 10 GX 器件中使用I/O和高速I/O
5.8. Intel® Cyclone® 10 GX器件的I/O和高速I/O的修订历史
6.1. Intel® Cyclone® 10 GX 外部存储器接口关键功能特性的解决方案
6.2. Intel® Cyclone® 10 GX器件支持的存储器标准
6.3. Intel® Cyclone® 10 GX 器件中的外部存储器接口宽度
6.4. Intel® Cyclone® 10 GX 器件中的外部存储器接口I/O管脚
6.5. Intel® Cyclone® 10 GX 器件封装中支持的存储器接口
6.6. Intel® Cyclone® 10 GX 器件中的外部存储器接口IP支持
6.7. Intel® Cyclone® 10 GX 器件的外部存储器接口体系结构
6.8. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的外部存储器接口修订历史
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8.2.4.2.5. 架构漏洞因素
Single Event Functional Interrupt(SEFI)比率测量因SEU冲击与功能性中断造成的位错误。最小化该比率可提高SEU缓解。 10% SEFI因子是将原始FIT缩小到实际观察值的典型规格。请参考Projected SEU FIT by Component Usage报告最后两列显示为,保守型50%SEFI和中等型25%SEFI的AVF收缩。
SEFI代表多因素组合。40%的utilization + ECC因素,与25% AVF,所以表示全局SEFI因子为10%,因为0.4 × 0.25 = 0.1。完整设计的典型端到端SEFI因子为10%。