Intel® Cyclone® 10 GX内核架构和通用I/O手册

ID 683775
日期 6/14/2018
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8.1.3. 故障率

Soft Error Rate(SER)或SEU可靠性以Failure in Time (FIT)单位表示。一个FIT单位表示每运行十亿小时出现一次软错误。

  • 例如,一个5,000 FIT的设计说明十亿小时(或8,333.33年)经历5,000次SEU翻转。由于SEU翻转通过单独统计,所以可加法计算FIT:如,单个FPGA具有5,000 FIT,那么10个FPGA就具有50,000 FIT(或8,333年中50K次故障)。

另一种可靠性测量为平均故障时间(MTTF),是是FIT或1/FIT的倒数。

  • 对于一个标准故障单位/十亿小时内5,000 FIT,MTTF为:

    1 /(5,000/1Bh) =1 billion/5,000 = 200,000 hours =22.83年

SEU翻转伴随一个泊松分布(Poisson distribution),以及一个指数分布(exponential distribution,关于故障间平均时间(MTBF)的累积分布函数(CDF))。请参阅 Intel FPGA Reliability Report了解关于故障率计算的更多信息。

Neutron SEU发生率因海拔高度,纬度和其他环境因素而异。 Quartus® Prime Pro Edition软件提供基于纽约曼哈顿海平面而编译的SEU FIT报告。JESD 89A规范定义了测试参数。

提示: 可使用如www.seutest.com中的计算器将数据转换成其他位置和海拔高度。此外,可在您项目的.qsf文件中加入相对中子通量(通过www.seutest.com计算所得)从而调整项目中的SEU率。