仅对英特尔可见 — GUID: mwh1409959822126
Ixiasoft
1. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的逻辑阵列模块与自适应逻辑模块
2. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的嵌入式存储器模块
3. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的精度可调DSP模块
4. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的时钟网络和PLL
5. Intel® Cyclone® 10 GX 器件的I/O和高速I/O
6. Intel® Cyclone® 10 GX 器件的外部存储器接口
7. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的配置,设计安全和远程系统更新
8. Intel® Cyclone® 10 GX器件的SEU缓解
9. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的JTAG边界扫描测试
10. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的电源管理
5.1. Intel® Cyclone® 10 GX 器件中的I/O和差分I/O缓冲
5.2. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的I/O标准和电压电平
5.3. Intel® Cyclone® 10 GX 器件的Intel FPGA I/O IP内核
5.4. Intel® Cyclone® 10 GX 器件的I/O资源
5.5. Intel® Cyclone® 10 GX 器件的体系结构和I/O的一般功能
5.6. Intel® Cyclone® 10 GX 器件的高速源同步SERDES和DPA
5.7. 在 Intel® Cyclone® 10 GX 器件中使用I/O和高速I/O
5.8. Intel® Cyclone® 10 GX器件的I/O和高速I/O的修订历史
6.1. Intel® Cyclone® 10 GX 外部存储器接口关键功能特性的解决方案
6.2. Intel® Cyclone® 10 GX器件支持的存储器标准
6.3. Intel® Cyclone® 10 GX 器件中的外部存储器接口宽度
6.4. Intel® Cyclone® 10 GX 器件中的外部存储器接口I/O管脚
6.5. Intel® Cyclone® 10 GX 器件封装中支持的存储器接口
6.6. Intel® Cyclone® 10 GX 器件中的外部存储器接口IP支持
6.7. Intel® Cyclone® 10 GX 器件的外部存储器接口体系结构
6.8. Intel® Cyclone® 10 GX器件中的外部存储器接口修订历史
仅对英特尔可见 — GUID: mwh1409959822126
Ixiasoft
8.1.3. 故障率
Soft Error Rate(SER)或SEU可靠性以Failure in Time (FIT)单位表示。一个FIT单位表示每运行十亿小时出现一次软错误。
- 例如,一个5,000 FIT的设计说明十亿小时(或8,333.33年)经历5,000次SEU翻转。由于SEU翻转通过单独统计,所以可加法计算FIT:如,单个FPGA具有5,000 FIT,那么10个FPGA就具有50,000 FIT(或8,333年中50K次故障)。
另一种可靠性测量为平均故障时间(MTTF),是是FIT或1/FIT的倒数。
- 对于一个标准故障单位/十亿小时内5,000 FIT,MTTF为:
1 /(5,000/1Bh) =1 billion/5,000 = 200,000 hours =22.83年
SEU翻转伴随一个泊松分布(Poisson distribution),以及一个指数分布(exponential distribution,关于故障间平均时间(MTBF)的累积分布函数(CDF))。请参阅 Intel FPGA Reliability Report了解关于故障率计算的更多信息。
Neutron SEU发生率因海拔高度,纬度和其他环境因素而异。 Quartus® Prime Pro Edition软件提供基于纽约曼哈顿海平面而编译的SEU FIT报告。JESD 89A规范定义了测试参数。
提示: 可使用如www.seutest.com中的计算器将数据转换成其他位置和海拔高度。此外,可在您项目的.qsf文件中加入相对中子通量(通过www.seutest.com计算所得)从而调整项目中的SEU率。