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AS配置时序
符号 | 说明 | 最小值 | 典型 | 最大值 | 单位 | |
---|---|---|---|---|---|---|
Tclk 155 | AS_CLK时钟周期 | — | 7.52 | — | ns | |
Tdutycycle | AS_CLK占空比 | 45 | 50 | 55 | % | |
Tdcsfrs | AS_nCSO[3:0]的置位到第一个AS_CLK边沿 | 4.21 156 | — | 7.50 156 | ns | |
Tdcslst | 最后的AS_CLK边沿到AS_nCSO[3:0]的置低 | 5.18 156 | — | 8 156 | ns | |
Tdo 157 | AS_DATA[3:0]输出延迟 | –1.5 | — | 1.31 | ns | |
Text_delay 158 159 | AS信号上的总外部传播延迟 | 0 | — | 15 | ns | |
Tdcsb2b | 两个背靠背传输之间的从选择置低的最小延迟 | 1 | — | — | AS_CLK |
图 26. AS配置串行输出时序图
图 27. AS配置串行输入时序图
155 AS_CLK fmax取决于最大电路板负载。对于AS单器件配置或使用多个串行闪存配置的AS,请使用Tdo和Text_delay注释中的公式来确保电路板具有足够的时序裕量,以满足 Intel® Stratix® 10 Device Datasheet中的 Intel® Stratix® 10中的闪存设置/保持时间规格要求和lAS时序规范。对于使用多个串行闪存器件的AS,请参考 Intel® Stratix® 10 Configuration User Guide来了解建议的AS_CLK频率和最大电路板负载。
156 AS运行的最大时钟频率 = 133 MHz。在AS时钟频率低于133 MHz时延迟更大。
157
DCLK = 10 pF和AS_DATA = 18 pF的负载电容。Intel建议通过IBIS或者HSPICE仿真获得特定链接(包括接收器,传输线,连接器,终端电阻和其他组件)的Tdo。
使用以下方程式对闪存建立/保持时序进行静态时序分析。
- 分析闪存建立时间,Tsu = AS_CLK/2 – Tdo(max) + Tbd_clk – Tbd_data(max)
- 分析闪存保持时间,Tho = AS_CLK/2 + Tdo(min) – Tbd_clk + Tbd_data(min)
158
Text_delay = Tbd_clk + Tco + Tbd_data + Tadd
Tbd_clk:FPGA与闪存器件之间的AS_CLK的传播延迟。
Tco:输出保持时间和时钟低(clock low)到闪存器件的输出有效。此延迟必须用于确保Text_delay在最小和最大规范值以内。
Tbd_data:FPGA与闪存器件之间的AS_DATA总线的传播延迟。
Tadd:AS_DATA接口上的主动/被动组件的传播延迟。
159 满足Text_delay时序规范表明满足AS_DATA建立/保持时序。