用于 PCI Express* 的 英特尔® FPGA R-tile Avalon® Streaming IP用户指南

ID 683501
日期 6/26/2023
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E.2. 5x5测试效率

重复测试的目的是量化被测器件(DUT)到DUT(Device Under Test (DUT)-to-DUT)板的复制差异和运行间(run-to-run)差异。选择两个或多个随机板和硅晶组可以对DUT之间的变化进行良好的统计评估。执行五次电源循环裕量运行可以提供boot-to-boot(启动到启动)变化的良好平均值,以适合统计模型。boot-to-boot的变化是强制物理 (PHY) 层(Physical (PHY) Layer)在测试之间重新训练的重要原因。使用系统的冷重新引导来强制PHY Layer重新训练,并建议作为边距裕量流程的一部分。英特尔建议使用5x5(五个测试板,每个测试板进行五次电源循环裕量运行)数据样本来验证PCIe链路。