L-tile和H-tile Avalon® 存储器映射 Intel® FPGA IP PCI Express* 用户指南

ID 683667
日期 11/11/2021
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6.1.6.5. 测试接口

256位测试输出接口仅适用于x16倍速仿真。对于x1、x2、x4和x8倍速系列可使用7位辅助测试总线。

信号

方向

描述

test_in[66:0] 输入

此为多路复用器,用于选择test_out[255:0]aux_test_out[6:0]总线。从通道(channel)8-15进行驱动。

以下编码定义为:

  • [66]: 保留
  • [65:58]: 多路复用器选择EMIB适配器
  • [57:50]: 多路复用器选择配置块
  • [49:48]: 多路复用器选择时钟
  • [47:46]: 多路复用器选择均衡
  • [45:44]: 多路复用器选择各种其他功能
  • [43:42]: 多路复用器选择PIPE适配器
  • [41:40]: 多路复用器针对CvP进行选择。
  • [39:31]: 多路复用器选择通道(channel)7-1,aux_test_out[6:0]
  • [30:3]: 多路复用器选择通道(channel)15-8,test_out[255:0]
  • [2]: 导致LCRC bit 0的反转。
  • [1]: 导致ECRC bit 0的反转。
  • [0]: 开启diag_fast_link_mode以加速仿真。
test_out[255:0] 输出

test_out[255:0]路由到通道(channel)8-15。包括内核,适配器,时钟,配置块,均衡控制,杂项,复位,和pipe_adaptor模块的诊断信号。

仅用于x16倍速系列。