Intel® MAX® 10 FPGA配置用户指南

ID 683865
日期 1/10/2022
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2.2.3.2. 用户模式错误检测

SEU是由于电离粒子导致的CRAM位状态改变。 Intel® MAX® 10器件的内置错误检测电路,可检测CRAM单元中的数据损坏。

此错误检测功能连续计算已配置CRAM位的CRC。将器件内容中的CRC与配置结束时预先计算所得到的CRC值进行比较。如果CRC值匹配,则当前配置CRAM位中无错误。错误检测操作持续进行,直到nCONFIG设置为低电平,将器件复位。

Intel® MAX® 10器件中的错误检测电路使用32-bit CRC IEEE Std. 802和32-bit多项式作为CRC生成器。因此,该器件仅执行单个32-bit CRC计算。如果未发生SEU,则得到的32-bit标识值为0x000000,从而输出信号CRC_ERROR上得到一个值0。如果器件中出现SEU,则得到的标识值非零,并且输出信号CRC_ERROR1。必须决定是否选通nCONFIG管脚低电平或忽略错误来重配置FPGA。