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2.2.3. SEU缓解与配置错误检测
Intel® MAX® 10器件的内置专用电路具有错误检测循环冗余检查(EDCRC)功能。可使用该功能缓解单粒子翻转(SEU)或软错误。
硬化片上EDCRC电路支持执行以下操作,且不影响器件的适配:
- 配置过程中自动检测循环冗余校验(CRC)错误。
- 通过可选的CRC错误检测识别用户模式中的SEU。
- 通过JTAG接口验证错误检测以进行错误检测测试。