AN 910: 英特尔Agilex® 7电源分配网络设计指南

ID 683393
日期 12/04/2023
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文档目录

2.3.3. 电源网络和瞬态规范

表 11中提供的电源轨瞬态用于设计并仿真电路板级别。对于PCB级PDN系统仿真和设计,请为以下FPGA封装求选择建议的负载压摆率(slew rate,电压转换速率)和阶跃负载。表 11显示了FPGA封装管脚的最大可容忍阶跃负载。表 11中建议的跃阶负载连接到EDA工具中PCB布局后(post-layout)模型(具有两个去耦电容器和稳压器模型,不包括封装和芯片/裸片模型)下的FPGA封装球,以用于时序域仿真,从而满足FPGA封装球处表 10中各个电源网络的相应电源轨容限。

表 11显示了封装球处建议的阶跃负载和该阶跃负载的压摆率。

注: 表 11中建议的阶跃负载适用于FPGA和tile中的普通应用和最坏情况下的操作。如果PTC中目标电源轨的动态电流小于表 11中的阶跃负载,则可以调整该阶跃负载。
表 11.   英特尔Agilex® 7器件系列中封装管脚处的瞬态和阶跃负载规范
封装电源轨 全部封装球处(阶跃负载) 封装球处的DI/dt(针对电路板设计)-压摆率 注释
DI (A)-阶跃负载 DI/dt (A/μs)-电压转换速率
VCC/VCCP核:AGF006/AGF008 4 20 基于80%内核利用率、80% DSP和30% M20K利用率的设计中,阶跃负载最差。假定切换率为15%。
VCC/VCCP核:AGF012/AGF014 17 200 基于80%内核利用率、80% DSP和30% M20K利用率的设计中,阶跃负载最差。假定切换率为15%。
VCC/VCCP核:AGF012/AGF014(低功耗场景) 12 141 低功耗场景情况下,最大电流为0.8 A
VCC/VCCP核:AGF019/AGF023和AGI019/AGI023 30.5 305 基于80%内核利用率、80% DSP和30% M20K利用率的设计中,阶跃负载最差。假定切换率为15%。
VCC/VCCP核:AGF027/AGF022和AGI027/AGI022 32.5 325 基于80%内核利用率、80% DSP和30% M20K利用率的设计中,阶跃负载最差。假定切换率为15%。
VCC/VCCP核:AGI035/AGI040 7 269 基于80%内核利用率、80% DSP和30% M20K利用率的设计中,阶跃负载最差。假定切换率为15%。
VCC/VCCP核:AGI041 21 420 基于80%内核利用率、80% DSP和30% M20K利用率的设计中,阶跃负载最差。假定切换率为15%。
VCC/VCCP核:AGM039/AGM032(R47A) 23 742 基于80%内核利用率、80% DSP和30% M20K利用率的设计中,阶跃负载最差。假定切换率为15%。
VCC/VCCP核:AGM039/AGM032(R31B) 6 111 基于80%内核利用率、80% DSP和30% M20K利用率的设计中,阶跃负载最差。假定切换率为15%。
VCCPT 2.4 12
VCCPT(低功耗场景) 0.22 1.1 低功耗场景情况下,最大电流为0.8 A
VCCIO_PIO 0.645 10.8 电流规范取决于每个I/O bank。每个I/O bank由96个I/O组成。可以多个I/O bank共享同一稳压器,但是电流规范仍取决于每个I/O bank。
VCCH 1.12 4.8 封装球处的阶跃电流取决于每个AIB Bridge。AIB Bridge的数量是根据封装中tile的数量计算得出。
VCCRT_GXE 0.88 35.2 取决于E-Tile
VCCRT_GXE(低功耗场景) 0.44 5.86 取决于每2个quad(四边形)E-Tile,低功耗场景情况下,最大电流为3 A
VCCRTPLL_GXE 0.3 6 取决于E-Tile
VCC_HSSI_GXP 1.6 20 取决于每个P-Tile
VCC_HSSI_GXP(低功耗场景) 1.0 10 取决于每个P-Tile,低功耗场景情况下,最大电流为3.5 A
VCCRT_GXP 1.56 14.85 最慢的阶跃负载,但也是最大的电流振幅。取决于每个P-Tile。
VCCRT_GXP(低功耗场景) 0.3 6 取决于每2个quad(四边形)P-Tile,低功耗场景情况下,最大电流为1.5 A
VCCH_GXP 0.37 50 取决于每个P-Tile
VCCH_GXP(低功耗场景) 0.2 50 取决于每个P-Tile,低功耗场景情况下,最大电流为3.5 A
VCC_HSSI_GXF 0.825 30.55 取决于每个F-Tile
VCCERT_FGT_GXF 0.228 22.8 取决于每单个FGT—F-Tile通道
0.935 1.33 对于8个FGT—F-Tile通道
1.87 1.24 对于16个FGT—F-Tile通道
VCCH_FGT_GXF 0.031 31 取决于每单个FGT—F-Tile通道
0.18 0.26 对于8个FGT—F-Tile通道
0.37 0.25 对于16个FGT—F-Tile通道
VCCERT2_FHT_GXF 0.03 0.49 取决于每单个FHT—F-Tile通道
0.128 0.43 对于4个FHT—F-Tile通道
VCCERT1_FHT_GXF 0.207 3.04 取决于每单个FHT—F-Tile通道
0.785 2.62 对于4个FHT—F-Tile通道
VCCEHT_FHT_GXF 0.022 0.35 取决于每单个FHT—F-Tile通道
0.064 0.21 对于4个FHT—F-Tile通道
VCC_HSSI_GXR 1.585 52.83 取决于每个R-Tile
VCCRT_GXR 2.47 6.58
VCCH_GXR 0.026 12.56

您还必须注意以下几点:

  1. 由于芯片处具有默认的高电流/功率配置或者高度敏感性,封装管脚处的阶跃电流仅提供给关键电源轨。Intel建议您使用表 11中关键电源轨的阶跃负载进行瞬态/时域PDN仿真,以确保满足封装管脚处的电压规范。如果不符合封装管脚上的电压规范,则必须调整去耦电容。
  2. Intel不对表 11中未提及的其它电源轨提供阶跃电流。由于这些电源轨在芯片处具有较低的敏感度或默认的低电流配置/功耗,因而被称为非关键电源轨。Intel不建议对非关键电源轨进行时域PDN分析。可保证本应用笔记中建议的非关键电源轨PDN设计安全可用。
  3. Intel建议执行对全部电源轨执行DC IR压降分析。