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Ixiasoft
SEU错误检测和校正
Arria® 10器件提供可靠易用的单粒子翻转(SEU)错误检测和校正电路。
检测和校正电路包含对Configuration RAM(CRAM)编程位和用户存储器的保护。通过连续运行集成ECC的CRC错误检测电路来保护CRAM,以自动校正一或两个错误并检测高阶多位错误。出现两个以上错误时,可通过重载核心编程文件来进行校正,在FPGA继续运行的同时全面刷新设计。
Arria® 10 CRAM阵列的物理布局经过优化,使大多数multi-bit干扰呈现为独立的single-bit或double-bit错误, 并由集成的CRAM ECC电路自动校正。除了CRAM保护,M20K存储器模块还包含集成ECC电路,并针对错误检测和校正进行了布局优化。MLAB没有ECC。