Intel Stratix 10 JTAG边界扫描测试用户指南

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ID 683207
日期 9/24/2018
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1. Intel® Stratix® 10概述 2. Intel® Stratix® 10 JTAG BST体系结构 3. Intel® Stratix® 10 BST操作控制 4. Intel® Stratix® 10 JTAG操作的I/O电压 5. 执行 Intel® Stratix® 10边界扫描测试 6. 使能和禁用 Intel® Stratix® 10 BST电路 7. Intel® Stratix® 10 IEEE Std. 1149.1 BST指导 8. Intel® Stratix® 10 JTAG边界扫描测试用户指南文档修订历史
2. Intel® Stratix® 10 JTAG BST体系结构 x
2.1. JTAG电路功能性模型 2.2. JTAG管脚 2.3. IEEE Std. 1149.1边界扫描寄存器
2.3. IEEE Std. 1149.1边界扫描寄存器 x
2.3.1. Intel® Stratix® 10器件I/O管脚的边界扫描单元 2.3.2. IEEE Std. 1149.6边界扫描寄存器
3. Intel® Stratix® 10 BST操作控制 x
3.1. 器件ID 3.2. 所支持的JTAG指令 3.3. JTAG安全模式
6. 使能和禁用 Intel® Stratix® 10 BST电路 x
6.1. 使能BST电路 6.2. 禁用BST电路
1. Intel® Stratix® 10概述
2. Intel® Stratix® 10 JTAG BST体系结构
3. Intel® Stratix® 10 BST操作控制
4. Intel® Stratix® 10 JTAG操作的I/O电压
5. 执行 Intel® Stratix® 10边界扫描测试
6. 使能和禁用 Intel® Stratix® 10 BST电路
7. Intel® Stratix® 10 IEEE Std. 1149.1 BST指导
8. Intel® Stratix® 10 JTAG边界扫描测试用户指南文档修订历史

2.2. JTAG管脚

表 1.  JTAG管脚说明
管脚 功能 说明
TDI 串行输入管脚用于：
  • 指令
  • 测试数据
  • 编程数据
  • 在TCK上升沿采样TDI，并应在TCK的下降沿将其驱动。
  • TDI管脚具有内部弱上拉电阻。
TDO 串行输出管脚用于：
  • 指令
  • 测试数据
  • 编程数据
  • 在TCK下降沿驱动TDO，并应在TCK的上升沿对其采样。
  • 如果数据没有从器件移出，则管脚处于三态。
TMS 输入管脚提供决定TAP控制器状态机跳变的控制信号。
  • 在TCK上升沿采样TMS，并应在TCK的下降沿将其驱动。
  • TMS管脚具有内部弱上拉电阻。
TCK 到BST电路的时钟输入。 —
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