Intel Stratix 10 JTAG边界扫描测试用户指南

ID 683207
日期 9/24/2018
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7. Intel® Stratix® 10 IEEE Std. 1149.1 BST指导

使用IEEE Std. 1149.1器件运行BST时,请参考以下指导:

  • SHIFT_IR 状态下,如果从指令寄存器移出的前两个位不是1,且随后为0,则TAP控制器无法达到正确状态。可尝试下列方法解决这个问题:
    • 验证TAP控制器是否已正确达到 SHIFT_IR 状态。为促进TAP控制器达到 SHIFT_IR 状态,需返回TEST-LOGIC-RESET状态并发送 01100 代码到TMS管脚。
    • 检查与VCCGNDJTAG以及器件上专用配置管脚的连接。
  • 在首个EXTEST测试周期之前,执行一个 SAMPLE/PRELOAD 测试周期,以确保进入 EXTEST模式时,已知数据在器件管脚出现。如果OEJ更新寄存器包含0, 那么OUTJ更新寄存器中的数据被驱动。必须确保该状态明确且正确,以避免与系统中的其它器件冲突。
  • in-circuit重配置期间,不要运行EXTEST测试,因为in-circuit重配置期间不支持EXTEST
  • 配置完成后,不可测试差分管脚对中的任何管脚。要在配置后运行BST,就需要编辑和重新定义BSC组,使之成为与这些管脚对相对应的内部单元。