Intel Stratix 10 JTAG边界扫描测试用户指南

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ID 683207
日期 9/24/2018
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1. Intel® Stratix® 10概述 2. Intel® Stratix® 10 JTAG BST体系结构 3. Intel® Stratix® 10 BST操作控制 4. Intel® Stratix® 10 JTAG操作的I/O电压 5. 执行 Intel® Stratix® 10边界扫描测试 6. 使能和禁用 Intel® Stratix® 10 BST电路 7. Intel® Stratix® 10 IEEE Std. 1149.1 BST指导 8. Intel® Stratix® 10 JTAG边界扫描测试用户指南文档修订历史
2. Intel® Stratix® 10 JTAG BST体系结构 x
2.1. JTAG电路功能性模型 2.2. JTAG管脚 2.3. IEEE Std. 1149.1边界扫描寄存器
2.3. IEEE Std. 1149.1边界扫描寄存器 x
2.3.1. Intel® Stratix® 10器件I/O管脚的边界扫描单元 2.3.2. IEEE Std. 1149.6边界扫描寄存器
3. Intel® Stratix® 10 BST操作控制 x
3.1. 器件ID 3.2. 所支持的JTAG指令 3.3. JTAG安全模式
6. 使能和禁用 Intel® Stratix® 10 BST电路 x
6.1. 使能BST电路 6.2. 禁用BST电路
1. Intel® Stratix® 10概述
2. Intel® Stratix® 10 JTAG BST体系结构
3. Intel® Stratix® 10 BST操作控制
4. Intel® Stratix® 10 JTAG操作的I/O电压
5. 执行 Intel® Stratix® 10边界扫描测试
6. 使能和禁用 Intel® Stratix® 10 BST电路
7. Intel® Stratix® 10 IEEE Std. 1149.1 BST指导
8. Intel® Stratix® 10 JTAG边界扫描测试用户指南文档修订历史

2.1. JTAG电路功能性模型

JTAG BST电路需要下列寄存器：

  • 指令寄存器—决定要执行的操作以及要访问的数据寄存器。
  • 旁路寄存器（1-bit长数据寄存器）—提供了一个位于TDI和TDO管脚间的最小长度串行路径。
  • 边界扫描寄存器—移位寄存器由器件中所有BSC组合而成。
图 1. JTAG电路功能性模型
  • 测试访问端口（TAP）控制器—控制JTAG BST。
  • TMS和TCK管脚—操作TAP控制器。
  • TDI和TDO管脚—为数据和指令寄存器提供串行路径。
注： Intel® Stratix® 10器件中没有TRST管脚。
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