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Ixiasoft
1. 关于本文档
2. 系统要求
3. 硬件安装
4. 安装OPAE软件
5. OPAE工具
6. 样例测试：本地环回(Native Loopback)
7. 安装Intel XL710驱动程序
8. 配置以太网接口
9. 使用Data Plane Development Kit (DPDK)测试网络环回
10. 正常关机
11. 单粒子翻转(Single Event Upset (SEU))
12. Intel Acceleration Stack用户指南： Intel® FPGA PAC N3000的文档修订历史
A. 故障排除
B. 通过BMC的Production版本和 Intel® Arria® 10映像对 Intel® FPGA PAC N3000进行升级
C. 配置4.19 Kernel
D. fpgabist样例输出
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11. 单粒子翻转(Single Event Upset (SEU))
Intel® FPGA PAC N3000的Intel Manufacturing Single Event Upset (SEU)测试提供以下结果：
- SEU事件不会在 Intel® FPGA PAC N3000中引起闭锁(latch-up)。
- 在硬核CRC电路和I/O寄存器中未发现SEU错误。
- 循环冗余校验(CRC)电路可以检测配置存储器中的所有单比特和多比特错误。
- Intel® MAX® 10 SEU： Intel® MAX® 10中的Error Detection CRC (EDCRC)电路检测SEU事件。在 Intel® FPGA PAC N3000中实现的CRC功能使CRC状态能够通过专用CRC_ERROR管脚报告给FPGA。以5.5到13.6秒的时间间隔对CRC错误输出进行连续轮询。
如果检测到一个CRC错误，那么如果随后的轮询未检测到错误，则不会永久记录此CRC错误。
当FPGA检测到一个CRC_ERROR置位，那么它将记录在FPGA内部寄存器RAS_CATFAT_ERR中。SEU事件后，系统寄存器比特是不可靠的，因此需要重启电源。
- FPGA SEU：在FPGA器件中，软核SEU错误能影响配置RAM (CRAM)比特的内容。硬化的片上EDCRC电路自动检测CRC错误。不支持CRAM翻转纠正。因此，如果检测到SEU错误，那么需要FPGA复位。