MAX 10 JTAG边界扫描测试用户指南

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ID 683210
日期 2/21/2017
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文档目录
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1. MAX® 10 JTAG BST概述 2. JTAG BST体系结构 3. JTAG BST操作控制 4. JTAG链中的I/O电压支持 5. 使能和禁用JTAG BST电路 6. JTAG BST指南 7. 边界扫描描述语言支持 8. MAX 10 JTAG边界扫描测试用户指南附加信息
2. JTAG BST体系结构 x
2.1. JTAG管脚 2.2. JTAG电路功能性模型 2.3. JTAG边界扫描寄存器
2.3. JTAG边界扫描寄存器 x
2.3.1. MAX® 10 I/O管脚中的边界扫描单元
3. JTAG BST操作控制 x
3.1. JTAG IDCODE 3.2. JTAG安全模式 3.3. JTAG专用指令 3.4. JTAG指令
8. MAX 10 JTAG边界扫描测试用户指南附加信息 x
A.1. MAX 10 JTAG边界扫描测试用户指南文档修订历史
1. MAX® 10 JTAG BST概述
2. JTAG BST体系结构
3. JTAG BST操作控制
4. JTAG链中的I/O电压支持
5. 使能和禁用JTAG BST电路
6. JTAG BST指南
7. 边界扫描描述语言支持
8. MAX 10 JTAG边界扫描测试用户指南附加信息

7. 边界扫描描述语言支持

BSDL—VHDL的子集—提供一种用以描述可IEEE Std. 1149.1 BST器件性能的可测试句法。测试软件开发系统，然后使用BSDL文件测试生成，分析，故障诊断和系统内编程。
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