文章 ID: 000077038 内容类型: 故障排除 上次审核日期: 2021 年 08 月 28 日

FLEX 10K® 和 FLEX® 10KA 设备的开放式消耗功能会在联合测试操作组 (JTAG) EXTEST 操作期间导致设备输出无法高开高吗?

环境

BUILT IN - ARTICLE INTRO SECOND COMPONENT
说明 使用 FLEX 10K 和 FLEX 10KA 设备时,开放式引脚可能会导致输出不高。

FLEX 10K 和 FLEX 10KA 设备提供了一个可选的开放式功能,支持设计人员基于引脚选择开机式操作。

JTAG IEEE Std. 1149.1 规定在测试模式期间,设备引脚特征(即输入或输出引脚的类型、开电消耗、电压级别)必须至少提供用户模式期间可用的功能。FLEX 10K 和 FLEX 10KA 设备符合 JTAG 规范,在用户模式和测试模式之间提供完全相同的引脚操作。因此,当这些设备配置为具有一些输出引脚集且启用了开放式功能的设计时,这些引脚在 EXTEST 期间还将具有这种开放式的配置。

使用开放式消耗输出要求设计人员具备向上拉电阻器,以确保正确的信号级别。对于符合 JTAG 标准的具有开放式输出的设备,此要求适用于用户模式和 EXTEST 操作。FLEX 10K 和 FLEX 10KA 设备允许用户通过使用不同的设计重新配置设备,来更改这种开放式输出选择。因此,信号测试取决于当前配置在设备中的用户功能。

在 EXTEST 期间,未配置的 FLEX 10K 和 FLEX 10KA 设备驱动器的 I/O 引脚没有开放式消耗特性。因此,在测试具有开放式消耗输出的设计时,EXTEST 操作在设备配置的前后会有所不同。

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Flex® 10K

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