Enpirion® 电源 SoC 设备的 VFB 引脚和控制回路不应作为电路测试 (ICT) 的一部分进行测量,虽然设备已通电并且正在运行。根据 ICT 的不同,寄存电容或电感可能会干扰控制回路,并导致设备行为异常。在这种情况下,设备可能会发生损坏。
可以通过在各自设备数据表中测量 VOUT 引脚和应用公式来推断设备 VFB 引脚的行为。
如果未将电源应用于 Enpirion Power SoC 设备,则可以执行 ICT 开放、短、耐用和电容测试。
Enpirion® 电源 SoC 设备的 VFB 引脚和控制回路不应作为电路测试 (ICT) 的一部分进行测量,虽然设备已通电并且正在运行。根据 ICT 的不同,寄存电容或电感可能会干扰控制回路,并导致设备行为异常。在这种情况下,设备可能会发生损坏。
可以通过在各自设备数据表中测量 VOUT 引脚和应用公式来推断设备 VFB 引脚的行为。
如果未将电源应用于 Enpirion Power SoC 设备,则可以执行 ICT 开放、短、耐用和电容测试。
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