边界扫描工具

边界扫描测试(BST)体系结构能够高效的测试PCB上引脚排列非常紧密的元器件。这一BST体系结构不需要使用物理测试探针,也不要求器件正常工作时采集功能数据,就能够测试引脚连接。器件中的边界扫描单元能够强制信号输出到引脚上,或者从引脚和核心逻辑信号采集数据。强制测试数据被串行移位到边界扫描单元中。采集到的数据被串行移出,在外部与预期的结果进行对比。图1介绍了边界扫描测试的概念。

 

图1. IEEE Std.1149.1边界扫描测试

 

边界扫描工具具有在系统编程能力(ISP),针对包括MAX® II、MAX 3000A、MAX 7000AE和MAX 7000B在内的Altera®器件使用了IEEE标准1149.1控制器。这些器件还支持IEEE 1532编程,这使用了IEEE标准1149.1测试访问端口(TAP)接口。

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