英特尔® 固态硬盘 D7-P5510 采用 144 层、TLC 和英特尔® 3D NAND 技术构建，为全闪存阵列提供优化的性能和容量，旨在提高 IT 效率和数据安全性。英特尔固态硬盘 D7-P5510 包括一款英特尔 PCIe 4.0 控制器和固件，为企业和云环境带来了低延迟、增强的管理能力、可扩展性和关键的全新 NVMe 功能。
这款固态硬盘提供 U.2 15 毫米的外形规格，容量为 3.84 TB 和 7.68 TB，预期寿命内每日整盘写入次数 (DWPD) 至高可达一次。
降低延迟，提高性能
英特尔固态硬盘 D7-P5510 具有可预测的高性能速度，并且会大大加速全闪存阵列。与上一代英特尔固态硬盘相比，经过性能优化的 D7-P5510 带来了高达 2 倍的序列读取性能提升，1降低 50％ 的延迟2，并提高 50% 的混合工作负载 IOP（70％ 读读，30％ 写入）3。
在使用数据集管理命令的情况下，新的 TRIM 架构进一步提高了实际工作负载的性能。经过优化的 TRIM 架构现在作为后台进程运行，而不会干扰工作负载，从而提高了并发 TRIM 期间的性能和 QoS。通过减少写入放大功能，可以改善 TRIM 流程，从而帮助驱动程序实现其耐用性目标。
针对驱动器性能、IT 效率、数据安全性和可管理性的固件增强功能
英特尔固态硬盘 D7-P5510 包括了大量固件增强，专为在以数据为中心的世界中提高 IT 效率和数据安全性而设计。
动态多命名空间可以增强运行时间配置和存储管理。使用单个较小的命名空间来超量提供，提高耐用性和随机写入性能。4
- 扩展的 LBA 格式支持为托管软件提供了灵活性，可以通过有效数据传输元数据并保护信息。英特尔固态硬盘 D7-P5510 支持以下扇区大小的 VSS：512/520/4096/4104/4160B。
- Scatter Gather List (SGL) 通过消除主机数据对齐的需求来提高性能。
- 增强的 SMART 监控功能，可使用带内机制和带外访问功能报告驱动器的运行状况，而不会中断 I/O 数据流。
- 通过确保设备的顺利运行，设备自我测试可以提高客户体验。主机系统可以请求存储设备（固态硬盘）进行测试，确保其正确运行，包括 SMART 检查、易失性内存备份、NVM 完整性、驱动器寿命等检查。
- Telemetry 实现了对大范围存储数据的访问，并且包括智能错误追踪和日志记录。这提高了发现和缓解问题的可靠性，并支持加速的认证周期，所有这些都可以提高 IT 效率。
- 支持 TCG Opal 2.0、可配置命名空间锁定、清洁和格式化 NVM 等额外的安全功能。
- 具有内置自检功能的 Power-Loss imminent (PLI) 保护方案可在系统突然断电时防止数据丢失。结合业内领先的端到端数据路径保护方案，5 PLI 功能还使部署到数据恢复中心（在这里系统级故障造成的数据损坏会得到解决）的工作变得容易。
NAND 技术行业领先者
英特尔提供的 144 层 3D NAND 技术可提供行业领先的磁录密度 6 和数据保持，7 使企业客户能够自信地扩展存储阵列以满足其不断增长的需求。迅速采用软件定义和超聚合的基础架构，对效率最大化、恢复现有硬件活力以及提高服务器敏捷性的要求越来越高，而同时又保持了操作的可靠性。
顶级企业服务器制造商已经做出响应，通过公开接受基于 PCIe/NVMee 的固态硬盘，提供可扩展的性能、低延迟和持续创新。满足日益增长的高强度 I/O 工作负载（包括人工智能和分析）的需求，已成为所有企业战略的核心要素。